学生発表リスト


【2016】

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、チャージアンプを備えたnc-AFMによる表面電子状態解析、第63回応用物理学会春季学術講演会、東工大　大岡山キャンパス、2016/03/18-22．

 

  • 附田健太郎、笹原亮、富取正彦、真空中で石英から昇華させたSiOのルチルTiO2(110)表面への堆積、第63回応用物理学会春季学術講演会、東工大　大岡山キャンパス、2016/03/18-22．

 

【2015】

  • M. Nogami, T. Arai, A. Sasahara, M. Tomitori, Tip-sample distance dependence of the output of a charge amplifier in NC-AFM, the 18th International Conference on non-contact atomic force microscopy, Cassis, France, 2015/09/7-11.

 

  • T. Miyagi, A. Sasahara and M. Tomitori,Water wettability of Si surfaces prepared in an ultrahigh vacuum chamber, the 22th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy ICSPM22，Atagawa, Shizuoka, 2014/12/11-13.

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦, NC-AFMに組み込んだチャージアンプと電流アンプ出力の同時測定, 第62回応用物理学会春季学術講演会、東海大学　湘南キャンパス、神奈川　2015/03/11-14．

 

  • 宮城友昭、笹原亮、富取正彦、超高真空槽で調製したSi(001)と(111)面の水滴下後の表面変化、第76回応用物理学会秋季講演会、名古屋国際会議場、愛知県名古屋市、2015/09/13-16.

 

  • 附田健太郎、笹原亮、富取正彦、雰囲気制御電気炉でのSiO2超薄膜のルチルTiO2(110)基板上への堆積、応用物理学会　北陸・信越支部学術講演会、信州大学工学部　長野、2015/12/12．

 

【2014】

  • Makoto Nogami, Toyoko Arai, Akira Sasahara, Masahiko Tomitori, Nanoscale capacitive analysis of surface states using a charge amplifier based on non-contact atomic force microscopy, the 17th international conference on non-contact atomic force microscopy, Tsukuba, Japan, 2014/08/04-08.

 

  • Tomoaki Miyagai, Akira Sasahara, Masahiko Tomitori, Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Hirofumi Yamada, Kei Kobayashi, Noriaki Oyabu, Silicon surfaces etched with atomic hydrogen observed by environmental controlled non-contact atomic force microscopy, the 17th international conference on non-contact atomic force microscopy, Tsukuba, Japan, 2014/08/04-08.

 

  • 木村周一、笹原亮、富取正彦、走査型トンネル顕微鏡のための探針調製と評価技術、平成25年度応用物理学会北陸･信越支部学術講演会、金沢工業大学、2013/11/22-23．

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、チャージアンプを用いたnc-AFMによる表面形状観察、発表奨励賞受賞、平成25年度応用物理学会北陸･信越支部学術講演会、金沢工業大学、2013/11/22-23．

 

  • 宮城友昭、笹原亮、富取正彦、粉川良平、大田昌弘、山田啓文、小林圭、大藪範昭、雰囲気制御型非接触原子間力顕微鏡によるSi表面の原子状水素照射効果の観察、平成25年度応用物理学会北陸･信越支部学術講演会、金沢工業大学、2013/11/22-23．

 

  • Amer Mahamoud Amer Hassan, Akira Sasahara, Hideki Murata, Masahiko Tomitori, Evaluation of stable alignment of 4,4''-diamino-p-terphenyl deposited on Si(001)-2×1 observed by scanning tunneling microscopy, 平成25年度応用物理学会北陸･信越支部学術講演会、金沢工業大学、2013/11/22-23．

 

  • 野上真、チャージアンプを用いたnc-AFMによる表面形状観察、招待講演、応用物理学会北陸･信越支部　第18回北陸･信越支部発表奨励賞　授賞式・受賞記念講演会、富山、富山県民会館、2014/02/01．

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、NC-AFMに組込んだチャージアンプの出力解析、第75回応用物理学会秋季学術講演会、札幌、北海道大学、2014/09/17-20．

 

  • Amer Mahmoud Amer Hassan, Akira Sasahara, Hideyuki Murata, Masahiko Tomitori, Annealing of 4,4''-diamino-p-terphenyl deposited on Si(001)-2×1 for stable alignment observed by scanning tunneling microscopy, 第61回応用物理学会春期学術講演会、神奈川県淵野辺、青山学院大学淵野辺キャンパス、2014/03/17-20．

 

  • 宮城友昭、笹原亮、富取正彦、粉川良平、大田昌弘、山田啓文、小林圭、大藪範昭、環境制御型nc-AFMを用いた原子状水素照射Siエッチングの観察、第61回応用物理学会春期学術講演会、神奈川県淵野辺、青山学院大学淵野辺キャンパス、2014/03/17-20．

 

  • 木村周一、笹原亮、富取正彦、走査型トンネル顕微鏡のためのタングステン探針の先鋭化と評価、第61回応用物理学会春期学術講演会、神奈川県淵野辺、青山学院大学淵野辺キャンパス、2014/03/17-20．

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、チャージアンプを組み込んだNC-AFMによる表面状態解析、第61回応用物理学会春期学術講演会、神奈川県淵野辺、青山学院大学淵野辺キャンパス、2014/03/17-20．

 

【2013】

  • Amer Mahmoud Amer Hassan, A. Sasahara, H. Murata, and M. Tomitori, Alignment of 4,4''-diamino-p-terphenyl (DAT) chemically adsorbed on Si(001)-2×1 observed by scanning tunneling microscopy, The 4th International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies, Kanazawa, 2013/06/17-20.

 

  • M. Nogami, T. Sakuishi, H. Ooe, T. Arai, A. Sasahara, and M. Tomitori, Analysis of surface electronic states using nc-AFM with a charge amplifier, the16th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy, Maryland, USA, 2013/8/5-9.

 

  • 宮城友昭、笹原亮、富取正彦、粉川良平、大田昌弘、山田啓文、小林圭、大藪範昭、原子状水素照射によるSi(111)表面のエッチングのNC-AFM観察、第77回応用物理学会会秋季学術講演会、同志社大学、京都、2013/9/16-20．

 

  • Le Tran Uyen, Akira Sasahara, Masahiko Tomitori, Ultra-thin SiO2 layer epitaxially grown on rutile TiO2(110) surfaces with improving hydrophilicity, The 60th JSAP Spring Meeting, 2013, Kanagawa Institute of Technology (Atsugi, Kanagawa), 013/03/27-30.

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、チャージアンプを用いたNC-AFMによる探針試料間相互作用の検出、第60回応用物理学春期学術講演会、神奈川工科大学（神奈川、厚木市）、2013/03/27-30．

 

  • 宮城友昭、笹原亮、富取正彦、粉川良平、大田昌弘、山田啓文、小林圭、大藪範昭、原子状水素照射によるSi(111)表面のエッチングのNC-AFM観察、第74回応用物理学会秋季学術講演会、京田辺、同志社大学、2013/09/16-20．

 

  • Le Tran Uyen Tu, 笹原亮、富取正彦、SiO2超薄膜を堆積させたTiO2(110)表面の親水性改善のAFM/XPS解析、第32回表面科学術講演会、東北大学さくらホール（片平キャンパス）、2012/11/20-22．

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、チャージアンプを用いたNC-AFM/STMによる電子状態解析、平成24年度応用物理学会北陸・信越支部学術講演会、富山市　富山県民会館、2012/11/16-17．

 

  • 野上真、新井豊子、笹原亮、富取正彦、チャージアンプを用いた非接触原子間力顕微鏡による表面状態解析、2012年度日本物理学会北陸支部学術講演会、金沢大学角間キャンパス、2012/12/1．

 

  • 宮城友昭、笹原亮、富取正彦、非接触原子間力顕微鏡によるSi(111)表面の原子状水素照射効果の観察、2012年度日本物理学会北陸支部学術講演会、金沢大学角間キャンパス、2012/12/1．

 



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